برگشت به شبکه آزمایشگاههای تحقیقاتی دانشگاه علم و صنعت ایران
   [صفحه اصلی ]   [ English ]  
بخش‌های اصلی
صفحه اصلی::
معرفی آزمایشگاه ::
پیام مدیر::
تجهیزات::
تعرفه خدمات::
پذیرش غیر حضوری::
اخبار::
تماس با ما::
::
شبکه آزمایشگاهی فناوری های راهبردی
..
جستجو در پایگاه

جستجوی پیشرفته
..
دریافت اطلاعات پایگاه
نشانی پست الکترونیک خود را برای دریافت اطلاعات و اخبار پایگاه، در کادر زیر وارد کنید.
..
:: دستگاه طیف سنج فلورسانس اشعه ایکسXRF ::
 | تاریخ ارسال: ۱۳۹۶/۹/۲۸ | 
شرکت سازنده Philips ( هلند)
مدل دستگاه: PW1480
آنالیز نیمه‌کمی و کیفی مواد مختلف
شناسایی عناصر از فلوئور (F) تا اورانیوم (U)
آنالیز عناصر اصلی سنگ‌ها و رسوبات
آنالیز نمونه‌های زمین‌شناسی و فلزی
آنالیز سیمان، نسوز و سرامیک
گزارش نتایج به صورت اکسیدی/عنصری
دفعات مشاهده: 238 بار   |   دفعات چاپ: 81 بار   |   دفعات ارسال به دیگران: 0 بار   |   0 نظر
>
Persian site map - English site map - Created in 0.16 seconds with 46 queries by YEKTAWEB 4004